我不是笨猫
发表于 2009-10-11 23:07
既然是加热后会有气体放出,那那些点也可能是气体造成的啊。你弄不到加热前的样品吗,比较一下啊
tipping.point
发表于 2009-10-12 10:24
回复 笨猫。
这个DIPPING的过程和加热的过程和合一的-----DIPPING一下,然后立即加热。再次DIPPING,再次加热。也就是说涂层是一层一层添加的。
PTFE是不容易溶解于任何液体的,加热的原因就是将之前溶解他的WETTING AGENT 去除,留下固体的PTFE在表层。中间还有一些什么功能我也不清楚。不是搞化学的啊
Innerfire
发表于 2009-10-12 11:22
非牛流体性质不是几句话能说清楚的,如果考虑可压缩性,就更复杂了,最好指明哪种。
楼上的,NI制作模板吗?最小间距多少?能做多大面积?我需要高度均一有序的自组装的二维模板,周期10到20纳米,不知NI能否做?有 ...
熊猫羊 发表于 2009-10-9 14:54 http://www.dolc.de/forum/images/common/back.gif
模板我们自己做,主要做的应用于光传感器的3D模板。所以x,y轴距离都是微米级的
二维的周期10-20nm的模板。。。感觉很极端了,感觉一般的Ebeam啥的做litho搞不定吧。。
我只知道stephen Chou他们有篇05年的文章中,用一种很极端的方法,弄出了类似周期的grating
"6 nm half-pitch lines and 0.04 µm2 static random access memory patterns by nanoimprint lithography"
熊猫羊
发表于 2009-10-12 12:41
建议,把硅片直接表面改性,在上边原位聚合特氟龙,比这么折腾强多了
马屁精
发表于 2009-10-12 15:09
回复 笨猫。
这个DIPPING的过程和加热的过程和合一的-----DIPPING一下,然后立即加热。再次DIPPING,再次加热。也就是说涂层是一层一层添加的。
PTFE是不容易溶解于任何液体的,加热的原因就是将之前溶解他的WETT ...
tipping.point 发表于 2009-10-12 11:24 http://www.dolc.de/forum/images/common/back.gif
楼主嫩的牙膏挤完了没有啊,呵呵
如果是一层层添加的,问题简化了
疵点的直径大概多少?PTFE溶解后的分子直径又有多少?
我不是笨猫
发表于 2009-10-12 15:48
35# 马屁精
{:4_293:} 估计还会挤一挤,楼主问的一点都不认真,咱们也就随便看看啦
马屁精
发表于 2009-10-12 16:07
35# 马屁精
{:4_293:} 估计还会挤一挤,楼主问的一点都不认真,咱们也就随便看看啦
我不是笨猫 发表于 2009-10-12 16:48 http://www.dolc.de/forum/images/common/back.gif
{:4_283:}
tipping.point
发表于 2009-10-12 16:12
不认真的楼主来了。。。{:4_276:}
平板上的疵点的大小不等直径50微米--200微米的都有,因为发现众多这样类似的疵点,这部分是由我自己通过3D显微镜完成的。
PTFE溶解以后的分子大小不知道的。
再次强调偶不是化学方向,没一点基础知识,而且该部分的实验都是由导师找的另外的公司做的。涂层的过程也是自己从书里找出来的,同时一点点问出来的。因为人家公司不愿意说出涂层的具体过程。
马屁精
发表于 2009-10-12 16:48
哦,系介个这样啊
原因很明显了,PTFE没有均匀的溶入液体,就算它能均匀的溶入液体,但是涂抹到固体表面的时候,无法保证它的均匀性。当溶液被高温蒸发掉之后,就会出现那么大的疵点了
要证实这个假设:
方法一,多做几个querschliff,就会看见层与层之间,会有好多随机出现的小孔,因为每抹一层就会产生好多疵点
方法二,如果板不是很厚的话,做个Roentgentomographie
tipping.point
发表于 2009-10-12 17:00
本帖最后由 tipping.point 于 2009-10-12 18:09 编辑
哦,系介个这样啊
原因很明显了,PTFE没有均匀的溶入液体,就算它能均匀的溶入液体,但是涂抹到固体表面的时候,无法保证它的均匀性。当溶液被高温蒸发掉之后,就会出现那么大的疵点了
要证实这个假设:
方法一, ...
马屁精 发表于 2009-10-12 17:48 http://www.dolc.de/forum/images/common/back.gif
马前辈,
多谢你的建议。
你的建议方法一:
我的想法是可以用SEM切面来做。 不知道这样行得通还是不行。用液氮切割样品,然后用CONFOCAL 聚焦显微镜来进行测试。PS我之前听说过似乎可以用什么液氮的东西冷冻后切割下,这样得到的截面才是真实的侧面。但是我这里不能做,估计找别的系可以做的。
之前做过的SEM 以及共聚焦显微镜的缺点是,样品都是用剪子切的,这样的横截面已经被全部破坏了。
如果你有什么好的建议做QUERSCHLIFF, 愿闻其详。
你建议的方法二:
这个真是我从来没有想过的。而且我的样品不厚,2MM-4mm左右.确实可以做一个X-ray CT的透视测试。这样就知道每部分的情况了。
多谢啦,不过就是要找个地方做,而且目前不知道哪里有这个仪器啦{:4_278:}