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楼主: lyric

关于表面粗糙度的测量(显微镜)--改进版

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 楼主| 发表于 2008-7-24 10:07 | 显示全部楼层
Die von den Nutzern eingestellten Information und Meinungen sind nicht eigene Informationen und Meinungen der DOLC GmbH.
 楼主| 发表于 2008-8-4 13:36 | 显示全部楼层
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发表于 2008-11-8 11:29 | 显示全部楼层
没太明白楼主到底是想做什么

如果是一个没有图形的面只想知道表面粗糙度,大概用白光干涉就行了,比较快
如果是有微小图形要测,一般都是AFM或者REM
AFM一次只能扫描很小的一个范围,最多到100 µm x 100 µm,用时也比较长,而且如果是很小很深的图形的话,由于探针的大小会对精度有影响甚至完全不能测,但测出的图片处理数据比较方便,比如看横截面之类。
REM差不多就是个高精度显微镜加照相机。

这个一般都是有什么设备就用什么吧,你们同事都用什么的啊?  还是你们要买新仪器让你研究研究?
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发表于 2008-11-8 21:08 | 显示全部楼层
这具体要看你要的测量精度了。一般那个白光干涉仪的精度是500nm,afm很高,但是相应的价格也很贵,一台要几十万欧元吧。

以后可能跟楼主同行阿,;)
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发表于 2008-11-9 13:55 | 显示全部楼层
原帖由 mx1981 于 2008-11-8 11:29 发表
没太明白楼主到底是想做什么

如果是一个没有图形的面只想知道表面粗糙度,大概用白光干涉就行了,比较快
如果是有微小图形要测,一般都是AFM或者REM
AFM一次只能扫描很小的一个范围,最多到100 µm x 100  ...


ganz genau啊...  AFM测蚀刻后的侧壁角度就有问题
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